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YR电路板故障检测仪ICT-4040UXP-II

YR电路板故障检测仪ICT-4040UXP-II

型    号: VV522-ICT-4040UXP-II
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YR电路板故障检测仪ICT-4040UXP-II
产品特点:
◆先进的测试技术,强大的驱动能力,任何故障原因的电路板皆可修好
◆友好简单的中文操作界面,不经专业训练,任何人均可成为维修
◆无需电路原理图,不必知道器件型号,对任何电路板皆可快速维修
◆40/40×2路数字电路测试功能,备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库;
◆40/40×2(ASA)V/I,曲线分析测试功能

VV522-ICT-4040UXP-IIYR电路板故障检测仪ICT-4040UXP-II的详细资料:

YR电路板故障检测仪ICT-4040UXP-II

YR电路板故障检测仪ICT-4040UXP-II

 

电路板故障检测仪ICT-4040UXP-II/电路板维修测试仪(带USB接口!) 型号:VV522-ICT-4040UXP-II

库号:M209638   


产品特点:
◆先进的测试技术,强大的驱动能力,任何故障原因的电路板皆可修好
◆友好简单的中文操作界面,不经专业训练,任何人均可成为维修
◆无需电路原理图,不必知道器件型号,对任何电路板皆可快速维修
◆40/40×2路数字电路测试功能,备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库;
◆40/40×2(ASA)V/I,曲线分析测试功能
◆电路板测试存储功能,被测板可与之比较
◆与进口同类仪器比较,更优,操作更方便
◆通用于各类双列直插式封装芯片,可为大中规模集成电路提供分析测试。
◆本功能亦可通过学习记录,比较分析来测试。
技术规格:
并口
Windows界面可在WIN98,WIN2000,WIN XP 等系统下工作
双CPU工作,速度更快,效率更高。
功能测试40×2通道
VI曲线测试40×2通道
双测试夹VI曲线测试
网络提取 程控加电
EPROM/RAM在线读取
模拟器件 VI曲线测试
总线隔离信号
中文维修笔记
◆[ICT]系列检测仪检测更加可靠准确

■ 功能测试软件设上拉电阻——方便集电极开路门的测试
■ 功能测试外供电源稳定可靠——各种大、中、小型被测电路板皆可测试
■ 功能测试具有三态识别能力——可测三态器件和IC负载能力下降故障
■ V/I测试正负扫描电压——同时检查正/反向V/I曲线
■ V/I测试六个扫描频率——保证V/I曲线测试稳定可靠
■ V/I测试三种测试电压幅度——确保各类器件的V/I测试

◆集成电路在线功能测试

本功能采用后驱动隔离技术,可在线判定IC逻辑功能是否正确,可测74系列、
4000/45000逻辑IC、75系列接口IC及各种存储器等千余种集成电路。 1、快速测试:直接
显示测试结果,迅速确定可疑IC 2、分析测试:显示全部测试过程,测试激励。预期和实
际响应,帮助分析故障原因 3、器件识别:查找无标记型号IC或同功能不同型号的IC。

◆集成电路在线状态测试

通过好坏板上相应IC的状态进行比较,找出有故障的IC。1、状态学习:在线学习无故
障IC的引脚关系,互连状态和测试的激励与响应,并存入数据库中 2、状态比较:同故障
板上相应IC在线进行状态比较,根据两者差异判定IC好坏 3、状态显示:显示存入电脑库
中的各IC的状态资料。

◆集成电路离线功能测试

离线测试IC功能好坏,自动识别未知型号的芯片

◆V/I曲线测试

通过好坏板上相应节点的动态阻抗圈的异同判定故障节点及故障IC 1、曲线学习:在线
学习无故障板上各节点的动态阻抗曲线(V/I曲线),并存入数据库中 2、曲线比较:同故
障板上相应节点的动态阻抗曲进行比较,根据差异大小及维修经验判定与此节点相关的IC
是否损坏 3、曲线显示:显示已存入电脑库中电路板上各个节点的动态阻抗图资料大规模
集成电路分析测试
网络提取测试

使用户方便的测试出元器件之间的连接关系,;辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采
用了四种模式:
1、探棒对探捧(“棒”—“棒”模式)
2、探捧对测试夹(“棒”—“夹”模式)
3、测试夹对探捧(“夹”—“棒”模式)
4、测试夹对测试夹(“夹”—“夹”模式)

◆开发编译

TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明
文件可以通过任何一个文本编辑器建立,并按TVED要求转换后即可
与相应子测试关联起来,随时用热键查看相应说明文件。

1、TVED允许两种建立测试图形和方法
a)在TVED图形界面上直接建立
b)读入DCL语言的编译结果

2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能,参考取回的响应,不断对测试图形加
以调整、修改。

3、4种测试方式:
a)完整执行一个测试
b)执行一个测试的一部分
c)循环执行
d)单步运行

备注信息:
比旧款的4040/8080增加了以下功能:

◆网络提取测试

使用户方便的测试出元器件之间的连接关系,;辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采
用了四种模式:
1、探棒对探捧(“棒”—“棒”模式)
2、探捧对测试夹(“棒”—“夹”模式)
3、测试夹对探捧(“夹”—“棒”模式)
4、测试夹对测试夹(“夹”—“夹”模式)

◆开发编译

TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明
文件可以通过任何一个文本编辑器建立,并按TVED要求转换后即可
与相应子测试关联起来,随时用热键查看相应说明文件。

1、TVED允许两种建立测试图形和方法
a)在TVED图形界面上直接建立
b)读入DCL语言的编译结果

2、编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能,参考取回的响应,不断对测试图形加
以调整、修改。

3、4种测试方式:
a)完整执行一个测试
b)执行一个测试的一部分
c)循环执行
d)单步运行

◆操作系统的兼容性增强

 


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