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电阻率测试仪型号KD09-KDT-9/10库号M406300

电阻率测试仪型号KD09-KDT-9/10库号M406300

型    号: 型号:KD09-KDT-9/10
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电阻率测试仪型号KD09-KDT-9/10库号M406300
KDT-9 探针间距1.59mm,压力4-10N;

以上两种规格探针头用于测量截面面积均匀,截面形状为方形、矩形或圆形,样品的长度与截面大尺寸之比不应小于3:1,循环实验测试样品的大直径为3.75cm,电阻率在0.0009-3000之间的单晶棒电阻率。
KDT-10 探针间距10mm,压力6-10N;

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电阻率测试仪型号KD09-KDT-9/10库号M406300

电阻率测试仪型号KD09-KDT-9/10库号M406300

 KDT-9 探针间距1.59mm,压力4-10N;

以上两种规格探针头用于测量截面面积均匀,截面形状为方形、矩形或圆形,样品的长度与截面大尺寸之比不应小于3:1,循环实验测试样品的大直径为3.75cm,电阻率在0.0009-3000之间的单晶棒电阻率。

KDT-10 探针间距10mm,压力6-10N;

此规格探针头用于测量锗锭的电阻率。

KDT-9 探针间距1.59mm,压力4-10N;

以上两种规格探针头用于测量截面面积均匀,截面形状为方形、矩形或圆形,样品的长度与截面大尺寸之比不应小于3:1,循环实验测试样品的大直径为3.75cm,电阻率在0.0009-3000之间的单晶棒电阻率。

KDT-10 探针间距10mm,压力6-10N;

此规格探针头用于测量锗锭的电阻率。
 

KDT-9 探针间距1.59mm,压力4-10N;

以上两种规格探针头用于测量截面面积均匀,截面形状为方形、矩形或圆形,样品的长度与截面大尺寸之比不应小于3:1,循环实验测试样品的大直径为3.75cm,电阻率在0.0009-3000之间的单晶棒电阻率。

KDT-10 探针间距10mm,压力6-10N;

此规格探针头用于测量锗锭的电阻率。
 

 

 

 

 


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